Note 1 to entry: The optical lever method is useful for monitoring the displacement of the cantilever. The displacement of the cantilever is measured by detecting the reflected light from the cantilever. There are three types of cantilever movement in the measurements: 1) the method wherein the cantilever contacts the specimen, 2) the method that monitors the amplitude change of the vibrating cantilever with cyclic contact (tapping mode), 3) the method that monitors the frequency change of the vibrating cantilever without contact between the cantilever and the specimen.

Note 2 to entry: This note applies to the French language only.

[SOURCE: IEC 62047-1:2016, 2.7.2]

Note 1 à l’article: La méthode du levier optique est utile pour contrôler le déplacement du microlevier. Le déplacement du microlevier est mesuré en détectant la lumière réfléchie par le microlevier. Il existe trois types de mouvements de microlevier dans les mesures: 1) la méthode dans laquelle le microlevier touche le spécimen; 2) la méthode qui contrôle les variations d’amplitude du microlevier vibrant avec contact cyclique (mode contact intermittent); 3) la méthode qui contrôle les variations de fréquence du microlevier vibrant sans contact entre le microlevier et le spécimen.

Note 2 à l’article: Le terme abrégé "AFM" est dérivé du terme anglais développé correspondant "atomic force microscope".

[SOURCE: IEC 62047-1:2016, 2.7.2]