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Area Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection / Materials for Surface Acoustic Wave (SAW) devices

IEV ref561-07-13

en
lattice constant
length of one unit cell along the major crystallographic axis

Note 1 to entry: The lattice constant is measured by X-ray using the Bond method.


fr
constante de réseau, f
longueur d’une maille le long de l’axe principal de cristallographie

Note 1 à l’article: La constante de réseau est mesurée par rayon X à l’aide de la méthode Bond.


ar
الثابت الشبكى

de
Gitterkonstante, f

es
constante de rejilla

it
costante di griglia

ko
격자 상수

ja
格子定数

pl
stała sieciowa, f

pt
constante de rede

zh
晶格常数

Publication date: 2014-11
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